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LED主要失效模式分析(二)

星之球激光 來源:電子發燒友2012-06-07 我要評論(0 )   

(3) 熱過應力失效 溫度一直是影響LED 光學 性質的重要因素,而在研究LED失效模式的時候,國內外學者考慮到將工作環境溫度作為加速應力,來進行LED加速壽命實驗[8,9]。這...

       (3) 熱過應力失效

  溫度一直是影響LED光學性質的重要因素,而在研究LED失效模式的時候,國內外學者考慮到將工作環境溫度作為加速應力,來進行LED加速壽命實驗[8,9]。這是因為在LED系統熱阻不變的前提下,封裝引腳焊接點的溫度升高,則結溫也會隨之升高,從而導致LED提前失效。

 
  
  圖1高功率LED的模型結構圖以及在工作環境溫度分別為(a)120℃、(b)100℃和(c)80℃下輻射功率和加速時間的關系圖

  Hsu等人對不同廠商所提供的LED樣品進行加速壽命實驗,該實驗將LED樣品分別置于80、100、120℃下,使用3.2V電壓驅動,并且規定當樣品的光功率下降到起始值的50%時,即判定為失效。圖1實驗結果表明:高功率LED的壽命隨著加速壽命實驗溫度的升高以及加速時間的增加而減小。在加速壽命實驗中,LED結溫升高會使得環氧樹脂材料發生異變,從而增加了系統的熱阻,使得芯片與封裝之間的受熱表面發生退化,最終導致封裝失效[9]。

  (4) 電過應力失效

  LED若在過電流的情況下使用(EOS)或者靜電沖擊損傷(ESD)了芯片,都會造成芯片開路,形成電過應力失效。例如,GaN是寬禁帶材料.電阻率較高。如果使用該類芯片,在生產過程中因靜電產生的感生電荷不易消失,當其累積到相當的程度時,可以產生很高的靜電電壓,這一電壓一旦超過材料的承受能力,就會發生擊穿現象并放電,使得器件失效。

      

       二、改善措施

  通過對以上所介紹的LED主要失效模式的分析,可以從中獲悉改善LED在實際使用壽命的技術方法。

  (1) 散熱技術

  散熱技術一直是影響LED應用的重要環節,如果LED器件不能夠及時散熱,就會導致芯片的結溫嚴重升高,繼而發光效率急劇下降,可靠性(如壽命、色移等)將變壞;于此同時,高溫高熱將使LED封裝結構內部產生機械應力,可能進一步引發一系列的可靠性問題[5]。因此,在制造工藝上,可以選擇導熱性好的底座,并且使得LED的散熱面積盡可能的大,從而增加器件的散熱性能。

  (2) 防靜電技術

  在第2.4節中已經提到,以GaN作為芯片的LED,在使用中存在的一個很大問題就是靜電效應,如果不處理好這一問題,就會嚴重影響到器件的壽命。因此,在LED設計時,要充分考慮到防靜電的設計,以避免器件因為高靜電電壓造成擊穿等失效現象。#p#分頁標題#e#

  (3) 封裝技術

  封裝所用的環氧樹脂材料,會因為光照以及溫升而引起其光透過率的劣化,在使用中則表現為原本透明的環氧樹脂材料發生褐變,影響器件原本的光譜功率分布。因此,在進行LED封裝的時候,我們要嚴格控制固化的溫度,避免在進行封裝的時候,就已經造成了環氧樹脂的提前老化。

  另一方面,為了防止器件發生腐蝕現象,在選擇透明性好的封裝材料的同時,要注意注塑過程中,盡量排干凈材料內部的氣泡,以減小水氣的殘留量,降低器件發生腐蝕的幾率。

  (4) 優化制造工藝

  LED制造過程中需要合適的鍵合條件,若鍵合過大將會壓傷芯片,反之則會造成器件的鍵合強度不足,使得器件容易脫松。因此,在保證器件鍵合強度的同時,需要盡量降低鍵合工藝對芯片造成的損傷,以達到優化鍵合工藝的目的。

  在進行芯片的粘接時,要求控制溫度和時間在合適的范圍之內,使得焊料達到致密,無空洞,殘余應力小等工藝要求。

  (5) 合理篩選

  在LED出廠前,可以增加一道篩選工藝,就是對其中的一些樣品進行合理的老化和篩選試驗,剔除一些可能發生提前失效的器件,以降低LED在實際使用中的提前失效現象。

  結論

  綜上所述,盡管LED具有很高的理論壽命,但是在實際使用過程中,受芯片、封裝、應力等因素的影響,使用時間遠遠不能達到所預期的理論值。為了確實提高LED的壽命,無論是在制造工藝上,還是在應用層面上,都需要更進一步的研究、探索和實踐。隨著LED技術的不斷發展,必定還會有新的問題不斷浮現。但是只要能夠掌握LED失效的根本原因,就能在實踐中確實改善LED器件的性能,將這種新型光源推廣到應用領域的前端,更好地服務于生產和生活。

 

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